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Diseño y construcción de un equipo para la medición de intensidad de luz reflejada en películas delgadas obtenidas electrolíticamente

Se presenta el diseño y la construcción de un equipo adaptado para la medición de intensidad de luz monocromática reflejada en la superficie de películas delgadas de cobre/níquel, depositadas sobre substratos de Zamac. Las películas fueron obtenidas electrolíticamente con las técnicas de Corriente Directa (DC) y Corriente Pulsante Inversa (PRC). El filtrado de la luz se realizó mediante un filtro óptico con un ancho de banda 680-720 nm. El equipo se compone de un circuito de medición de la señal luminiscente por medio de una fotorresistencia que actúa como receptor, 2 amplificadores para la adecuación de las señales, las cuales fueron adquiridas por PC mediante la tarjeta NI PCI 6221 de National Instruments, usando el software de instrumentación virtual LabVIEW®.